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综合数字芯片测试仪


AT82000是一款综合数字芯片测试平台,可用于逻辑芯片和存储器芯片在晶圆阶段的CP测试和封装后的FT测试,测试内容包括功能、逻辑、直流参数和交流参数。测试软件采用模块化设计,用户可以根据需要灵活选择测试项目和制定测试流程。测试仪整合了温度箱,芯片能在可编程的温度条件下进行可靠性测试。

 

综合数字芯片测试平台AT82000的设计指标如下表所示。

 


 
 编号  项目  指标  说明
 1 数字通道数  512  可以测试不超过512个引脚的数字芯片 
 2 通道速率   400Mb/S 支持的最大速率 
 3 向量存储深度   64Mb 每通道 
 4 扫描存储深度   64Mb 每通道配置PMU 
 5 边沿定位精度  50ps 
 6 PMU量程  -2V—+7V,40mA  每通道配置PMU 
 7 可编程DUT电源  0V—5.5V,0.01V  可调节精度为0.01V 
 8 可调温度箱  -55~125摄氏度  温度范围 
 9   0.5摄氏度   温度波动度 
 10   小于2摄氏度   温度均匀度 
11    2摄氏度 温度偏差 

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