产品搜索
请输入产品关键字:
混合信号芯片测试平台

AT83000是一款混合信号芯片测试平台,可用于模拟芯片和模拟-数字混合芯片在晶圆阶段的CP测试和封装后的FT测试,测试内容包括功能、直流参数和交流参数。测试软件采用模块化设计,用户可以根据需要灵活选择测试项目和制定测试流程。测试仪整合了温度箱,芯片能在可编程的温度条件下进行可靠性测试。


 编号  项目  指标  说明
 1  任意波形发生  精度12bit  
 2  数字化仪  精度12bit  
 3  时间间隔分析仪  输入频率400MHZ  
 4  数字通道速率  200Mb/S  支持的最大速率
 5  边沿定位精度  50ps  
 6  PMU量程  -2V—+7V,40mA  每通道配置PMU
 7  可编程DUT电源  0V—5.5V,0.01V  可调节精度为0.01V
 8    -55~125摄氏度  温度范围
 9  可调温度箱  0.5摄氏度  温度波动度
 10    小于2摄氏度  温度均匀度
 11    2摄氏度  温度偏差

 

脚注栏目
CopyRight 2013 All Right Reserved 蓝科外贸网站 粤ICP备14082010号-1
脚注信息
地址:中国·广东省珠海市唐家湾镇哈工大路1号15栋 电话:0756-3339220 传真:0756-2154503