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射频芯片测试仪

AT86000是一款射频芯片测试平台,可用于射频芯片在晶圆阶段的CP测试和封装后的FT测试,测试内容包括功能、直流参数和交流参数。测试软件采用模块化设计,用户可以根据需要灵活选择测试项目和制定测试流程。测试仪整合了温度箱,芯片能在可编程的温度条件下进行可靠性测试。

射频芯片测试平台AT86000的设计指标如下表所示。

编号

项目

指标

说明

1

任意波形发生器

精度12bit

采样率500Msps

 

2

数字化仪

精度12bit

采样率500Msps

 

3

时间间隔分析仪

输入频率400MHZ

 

4

边沿定位精度

50ps

 

5

PMU量程

-2V+7V40mA

每通道配置PMU

6

可编程DUT电源

0V5.5V0.01V

可调节精度为0.01V

7

 

可调温度箱

-55~125摄氏度

温度范围

8

0.5摄氏度

温度波动度

9

小于2摄氏度

温度均匀度

10

2摄氏度

温度偏差


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